安捷倫科技(中國)有限公司
使用 Agilent 5800 FACT 技術測定釹鐵硼中的雜質元素
檢測樣品:釹鐵硼
檢測項目:稀土元素
方案概述:本文介紹了一種采用 Agilent 5800 ICP-OES 結合快速自動曲線擬合技術 (FACT) 準確測定釹鐵硼中稀土雜質元素的方法。該方法借助 FACT,能夠有效去除稀土元素之間的譜線干擾;經模型校正后的所有元素校準曲線的相關系數均高于 0.999,且 13 種稀土雜質元素的加標回收率在 90.4%–111.3% 之間。
釹鐵硼作為高性能永磁材料,廣泛應用于新能源汽車、風電設備、電子信息、航空航天等領域,是支撐節能環保、高端制造和新興產業發展的關鍵基礎材料,其性能優劣直接影響終端產品的能效與核心競爭力。釹鐵硼的磁性主相是 Nd2 Fe14 B,稀土雜質 (例如 Pr、Sm、Dy 和 Gd 等)會以“原子替換”形式破壞主相結構,導致磁性能發生不可逆的下降;且雜質元素含量的波動還會干擾釹鐵硼的熔煉和燒結等關鍵工藝,導致產品良率驟降。因此,對釹鐵硼中的稀土雜質元素進行準確定量至關重要。
《釹鐵硼合金化學分析方法》(XB/T 617)[1] 中的第一法為電感耦合等離子發射光譜法 (ICP-OES)。在測試過程中,由于稀土元素發射的特征譜線數量多且波長接近,因此這些元素極易相互干擾,影響準確定量。
本文介紹了一種采用 FACT 模式消除稀土元素間譜線干擾的方法。該方法改善了 ICP-OES 分析釹鐵硼中稀土元素的準確度和檢出限,為釹鐵硼材料的高效質量管控提供了可靠的技術支撐。
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