J100 Femto LA系統是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發展的重大突破。J100確保元素和同位素不分解的情況下，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，這是采用長脈沖激光技術無法達到的
LA-ICP-MS 的量子級飛躍
J100 Femto LA系統是LA-ICP-MS技術向高精度、高準確度、高靈敏度水平發展的重大突破。J100確保元素和同位素不分解的情況下，均勻剝蝕樣品成透明狀，這意味著剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學特性，這是采用長脈沖激光技術無法達到的。
減少樣品的依賴性，比霧化技術精度高
J100系列剝蝕樣品精度高，且沒有熱效應。而采用長激光脈沖的系統，會發生的多種熱過程，改變剝蝕樣品的數量和化學成分，如改變熱特性等；并且無論采用什么波長，如266nm, 213nm 或193nm, 為了準確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標準物質。
J100剝蝕均勻*，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性，無需高度匹配的標準物質，也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。
均勻*的粒徑確保高精度、高靈敏度測量
長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大（常大于數微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低，并且降低了分析的靈敏度。大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產生峰值，導致測量精度降低。J100系統產生的樣品顆粒均勻*，且尺寸分布合理，一般在10-200nm，運輸效率高。這些到達ICP源的顆粒能*被消解，產生穩健、恒定的瞬時ICP-MS信號。用戶可*依靠J100系統輸送高質量的樣品顆粒到ICP-MS 系統。
元素和同位素的分餾zui少
在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程：（1）非化學計量物質剝蝕的熱過程；（2）大樣品顆粒在ICP源不*消解。J100施加高能激光的時間比長脈沖系統短，zui短達1/10000。J100系統通過非熱過程，施加超高激光輻射剝蝕樣品，產生的顆粒能在ICP源*消解，確保在測量過程中獲取高精度、穩定的元素或同位素信號。
高精度元素和同位素測量的保障
ICP-MS瞬時信號波動少，且集成的高強度 導致精度和檢測靈敏度的提高 |
ASI公司的技術團隊擁有80多年激光剝蝕技術的基礎研究經驗和LA-ICP-MS方法的研究背景，也是世界*在LA-ICP-MS系統中采用飛秒激光脈沖，并實現其性能的公司。J100 Femto LA系統能完成挑戰性的化學分析工作。來自ASI公司嚴謹的科研和是其它技術無法達到的。使用ASI公司的產品，意味著能直接和世界*的研究團隊交流，并得到專業的。
*的 軟件與ICP-MS儀器協同操作
J100 Femto LA系統軟件 功能直觀、帶圖形界面，易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式。 采用雙向通信控制，協同操作ICP-MS儀器達到了*的水平。 軟件讓用戶通過基本單元“處方”來制定各個硬件工作的時間序列命令集，并通過串聯多個“處方”，讓系統自動完成各個測量工作。
硬件控制簡單、方便
軟件使J100用戶簡單、方便地操作硬件部件。只需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統、光模塊、3-D操作臺、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態，不同用戶組可賦予不同的使用權限。
獲取勾邊樣品圖像，制定復雜的激光采樣模式
軟件提供大的視頻窗口，顯示勾邊的、詳細的樣品圖像。用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式。即使是形狀怪異的結構，采用 的模式工具也可選定，并分析其元素或同位素。
雙照相系統掃描樣品J100 的兩個相機提供廣角和放大的樣品圖像。 允許用戶先獲取樣品的廣角圖像，然后在圖像上掃視不同的位置，高倍放大選定點。
智能氣流控制，zui大限度地獲取ICP-MS等離子體的穩定性和分析性能
具備智能輸送和補充氣控制功能，使每種氣體按預定的方式達到設定值，同步開關確保穩定的ICP-MS等離子體狀態，防止突然冒火焰。預設閥配置可選擇氬氣或氦氣作為輸送氣或補充氣。
“處方”功能讓系統自動運行
用戶可將多個硬件部件運行命令集合，并按時間順序排列，形成 “處方”。制定完成的處方，以后也可以調用。多個處方可編制成組，自動順序執行，使測量工作高度自動化。
可簡單采用“recall”命令調用“處方”，重復實驗，也可復制部分“處方”，結合新的命令，完成新的采樣過程。
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