基恩士 形狀測量激光顯微系統

設備名稱：基恩士 形狀測量激光顯微系統 VK-X4000系列

產品簡介：

基恩士 形狀測量激光顯微系統 VK-X4000系列

形狀測量激光顯微系統 VK-X4000 系列采用了“三重掃描方式"，靈活運用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，對各種目標物進行高精度的測量和分析。此外，對于鏡面體、透明體等測量難度高的材料也能進行高速、高精度、大范圍的測量。它還新增了多點測量功能，能輕松地對多個目標物進行全自動多點測量。無需復雜的設定即可自動化多點測量。通過減少作業時間和增加測量采樣點數，提升研發的客觀評估和可靠性。

詳細介紹：

基恩士 形狀測量激光顯微系統 VK-X4000系列

產品外觀

產品特性

1、一臺設備搭載三種測量原理
不易受材質或形狀影響，可實現高精度3D測量

2、可通過多點自動測量輕松地進行3D測量

3、粗糙度自動分析應用程序

Ra相同，但外觀不同。
傳送至AI-ANALYZER后，瞬間判定多個“粗糙度參數"中哪一個的差較大。

“Ra"、“Rz"多用作粗糙度參數，除此之外還有很多“粗糙度"。
使用AI-ANALYZER迅速可知哪項粗糙度參數更值得評估。

4、兼容高/低倍率測量，適用于平面與曲面形貌

適用于各種目標物的測量能力。

基恩士 形狀測量激光顯微系統 VK-X4000系列

除上述應用外，在其他行業也應用廣泛。

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