普泰克 CMP后清洗純水冷卻

普泰克 CMP后清洗純水冷卻系統產品介紹

一、 產品概述

二、 核心結構與工作原理

• 高效換熱與潔凈循環模塊：系統配備高性能磁耦合無泄漏循環泵與精密換熱單元，通過優化的流道設計，力求實現熱量在清洗槽夾套、盤管或外置板式換熱器中的快速傳遞與均勻分布。針對純水的特殊屬性，接觸物料部分可選用特種防腐及低析出材質，避免交叉污染與管路堵塞。

• 高精度傳感與反饋模塊：系統集成高精度溫度傳感器，實時采集清洗槽內多點及回流節點的溫度數據。結合優良的PID智能算法與自整定功能，系統能夠根據流體的熱力學特性自動調節輸出，力求將整體溫度波動控制在極小的范圍內。

• 動態響應與補償模塊：針對CMP后清洗工藝在多工位交替運行、啟停泵及流量切換時帶來的熱負荷劇烈波動，裝置具備快速的動態響應能力。通過前饋與反饋相結合的復合控制策略，力求迅速抵消外部干擾與內部熱效應帶來的溫度偏差，維持工藝溫度的平穩。

• 全密閉設計與安全防護平臺：采用全密閉循環回路設計，膨脹罐溫度始終保持在較低溫度，力求避免高溫油霧揮發及低溫吸收空氣水分的問題。配備直觀的人機交互界面，內置多重軟硬件安全機制（如超溫報警、泵故障保護等）。

三、 核心技術優勢

• 控溫精度與穩定性：依托普泰克成熟的高精度溫控方案，系統力求實現±0.5℃甚至更高精度的溫度控制，有效減少因溫度波動導致的清洗效率變化或表面缺陷，提升晶圓加工的良率。

• 優異的均溫性與動態響應：優化的流體動力學設計與快速響應的控制算法相結合，力求消除大容量清洗槽中的局部熱點或冷點，保障純水在整個清洗過程中的均勻性與批次重現性。

• 潔凈與防污染設計：從材質選型到密封結構充分考慮了半導體級純水的高潔凈度要求，力求杜絕金屬離子析出與微粒污染，符合電子級化學品的生產規范。

• 靈活的工藝適配能力：系統支持多種通訊協議與接口，易于與現有的DCS或PLC系統集成。同時，其寬廣的溫控范圍與靈活的參數設置，力求適應不同種類CMP清洗工藝的多樣化需求。

四、 典型技術參數（參考）

• 適用介質：半導體超純水（UPW）、去離子水（DI Water）、電子級清洗液等

• 溫控范圍：-80℃至+300℃（依具體機型與配置而定）

• 控溫精度：±0.5℃至±1℃（在特定工況下）

• 循環流量：可調，滿足不同管徑與流速的需求

• 加熱/制冷功率：根據清洗槽容積與工藝熱負荷定制

• 材質選擇：316L不銹鋼、PTFE、PFA等特種耐腐蝕材質可選

• 控制系統：智能PID控制，支持數據記錄、曲線顯示及遠程通訊

• 安全保護：超溫報警、過流保護、液位監測、緊急切斷

五、 主要應用領域

• 半導體晶圓制造：CMP后清洗槽的恒溫管理、晶圓表面顆粒去除過程的溫度控制、蝕刻液的在線保溫。

• 精密材料加工：光學鏡片研磨、藍寶石襯底加工過程中純水的溫度管理。

• 研發與中試：新型清洗工藝開發、供給系統熱管理參數優化、小批量試產及工藝放大驗證。