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日本nittoseiko化妝品食品積分球式濁度計PT-200是一款符合JIS-K0101（工業用水試驗方法）、上水試驗方法、衛生試驗方法注解等公定標準的高精度濁...
高電阻率計 包裝材料防靜電特性評估測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 103–101? Ω 的超寬量程，...
PI、BCB薄膜研發高阻評估高電阻率計 測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 103–101? Ω 的超寬...
絕緣高阻材料測量臺式高電阻率計超寬量程單臺覆蓋103 – 101? Ω（@ 1 V–1000 V），無需更換主機即可測防靜電薄膜到絕緣樹脂。1 V–1000 V...
nittoseiko環氧樹脂半導體薄膜高電阻率計用途：測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 103–101...
液晶顯示器觸控評估自動電阻率測定儀對導電薄膜、金屬箔、ITO 玻璃、觸控/光伏大板等進行全自動二維 mapping，快速可視化整板電阻率（Ω/□）分布與均勻性，...
桌面型ITO玻璃膜厚分布可視化低電阻率計對導電薄膜、金屬膜、ITO 玻璃等樣品進行“表面電阻率 Ω/□"與“體積電阻率 Ω·cm"二維 mapping，快速可視...
導電薄膜膜厚分布評估低電阻率自動測定儀對導電薄膜、金屬膜、ITO 玻璃等樣品進行“表面電阻率 Ω/□"與“體積電阻率 Ω·cm"二維 mapping，快速可視化...
藥品食品粉體壓縮導電性評估自動電阻測量儀全自動一鍵測量設定目標載荷后按 START，加壓、電阻率計算、密度計算、數據保存全部自動完成。超低載荷對應（0.01 k...
nittoseiko陶瓷粉體壓粉密度電阻率測定儀全自動一鍵測量設定目標載荷后按 START，加壓、電阻率計算、密度計算、數據保存全部自動完成。超低載荷對應（0....
導電填料碳材料開發自動粉體電阻測定儀用途：在“加壓-粉體密實"狀態下，自動、同步測量粉體的體積電阻率與壓粉密度，為鋰電、電子、磁性材料等研發與品管提供全新評價手...
日本nittoseiko鋰離子電池粉體電阻測定儀在“加壓-粉體密實"狀態下，自動、同步測量粉體的體積電阻率與壓粉密度，為鋰電、電子、磁性材料等研發與品管提供全新...
日本nittoseiko低載荷自動粉體電阻測定系統 在“加壓-粉體密實"狀態下，自動、同步測量粉體的體積電阻率與壓粉密度，為鋰電、電子、磁性材料等研發與品管提供...
日本nittoseiko金屬鍍層自動觸屏低電阻率計低阻區 10??–10? Ω：采用恒流四探針法（JIS K 7194），標配 ASR 探頭，可測導電塑料、IT...
日本nittoseiko小型全自動低電阻率測量儀7.5 英寸彩色觸控屏，按“START"后自動選擇電流/電壓、極性反轉、穩定判定、保持數據并停止，支持 Time...
日本nittoseiko玻璃薄膜測量低電阻率計低阻區 10??–10? Ω：采用恒流四探針法（JIS K 7194），標配 ASR 探頭，可測導電塑料、ITO ...
日本nittoseiko電池隔膜測量4探針電阻率計低阻區 10??–10? Ω：采用恒流四探針法（JIS K 7194），標配 ASR 探頭，可測導電塑料、IT...
日本nittoseiko半導體硅晶圓測量電阻率計低阻區 10??–10? Ω：采用恒流四探針法（JIS K 7194），標配 ASR 探頭，可測導電塑料、ITO...
日本nittoseiko手持式4探針低電阻率測量儀采用專用4探針探頭，一鍵高精度測量各種材料的電阻率。自動保持功能還可設置定時器，確保獲得準確的測量值。除了附帶...
日本nittoseiko表薄膜硅片工業級低電阻率計采用符合 JIS K 7194 的四端子 4 探針+恒流施加法，可一鍵完成 10?2~10? Ω 范圍的電阻率...
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